儀器特征：
 

• 內(nèi)旋式標(biāo)準(zhǔn)白板，馬達(dá)帶動(dòng)，通過(guò)軟件設(shè)定可定期自動(dòng)校對(duì)
• 提供符合ISO Level III標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)紙樣，用于標(biāo)準(zhǔn)傳遞
• 光源為脈沖氙燈，不需暖機(jī)，使用壽命長(zhǎng)
• 軟件操作，可根據(jù)檢測(cè)目的自行編輯測(cè)試程序
• 帶用戶(hù)權(quán)限設(shè)置，不同級(jí)別的用戶(hù)可設(shè)置不同的使用權(quán)限
• 儀器上帶有觀(guān)測(cè)窗，想觀(guān)測(cè)小樣品是否放置于正確的位置，可由儀器內(nèi)部的CCD攝像頭拍攝影像，實(shí)時(shí)顯示與電腦屏幕上，無(wú)需操作人員用眼睛在儀器測(cè)孔上觀(guān)察。

技術(shù)參數(shù)：
燈 源： 脈沖氙燈
每次測(cè)試閃光次數(shù)：4次
光源壽命(測(cè)試次數(shù))：500,000
幾何條件：雙光束，d/0°
測(cè)試面積：直徑30mm，可選配15mm，7.5 mm測(cè)孔
光電非線(xiàn)性：0.1%
重復(fù)性(讀白板20次)：<0.01 CIELAB △E
機(jī)臺(tái)間再現(xiàn)性：<0.20 CIELAB △E
測(cè)量時(shí)間：2秒
測(cè)量范圍：反射0-200%
白度、色差波長(zhǎng)范圍：400-700nm
偵 測(cè) 器：二氧化硅陣列掃描器,256元素
頻 寬 帶：10nm
反射數(shù)據(jù)間隔：1nm，5nm，10nm，20nm
光譜偵測(cè)器：雙光束全息光柵
光 源：自動(dòng)控制為D65，C及UV-EX水平
視 角：CIE 2°，10°
色彩度量：X，Y，Z / R(x)，R(y)，R(z) / L*，a*，b* / L*，c*，h / DWI， PUR， X，Y
視 白 度：CIE, ASTM, HUNTER
色 調(diào)：CIE-HUNTER
黃 度：HUNTER
暖機(jī)時(shí)間：不需要
能 耗：170W(zui大) 8W(正常使用)
電 源：220VAC 50Hz
凈 重：30kg
毛 重：45kg