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簡要描述:Sanko涂層測厚儀SWT-7000ⅢSWT-7000Ⅲ+FN325 探測頭:可進(jìn)行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。新 的 兩 用 探 測 頭 FN-325 可 用 于 SWT-7000 Ⅲ 系 列 的 產(chǎn) 品(7000Ⅲ、7100Ⅲ、7200Ⅲ)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。SWT 系列探頭可互換。◆ 兩用型 : FN-325※◆ 鐵材用 : Fe 系列◆ 非鐵材 :
Sanko涂層測厚儀
SWT-7000Ⅲ+FN325探測頭:可進(jìn)行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。
新的兩用探測頭FN-325可用于SWT-7000Ⅲ系列的產(chǎn)品(7000Ⅲ、7100Ⅲ、7200Ⅲ)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。
SWT系列探頭可互換。
◆ 兩用型 : FN-325※
◆ 鐵材用 : Fe 系列
◆ 非鐵材 : NFe 系列
※新的探頭FN-325不能用于SWT-7000和SWT-7000Ⅱ,只
適用于 SWT-7000Ⅲ.
探測頭型號 | FN-325 |
測量方式 | 電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動(dòng)識別) |
測量范圍 | 鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm |
表示分辨率 | 1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通) 0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通) 0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通) 0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材) 0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材) |
測量精度 (平滑表面) | 0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通) 或者是指示值的±2%以內(nèi) 101μm~3.00mm:±2%以內(nèi)(鐵底材) 101μm~2.50mm:±2%以內(nèi)(非鐵底材) |
探測部 | 1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g |
選擇產(chǎn)品 | V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用) |
附屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)校正板、試驗(yàn)用零校正板、(鐵用·非鐵用) |
測量對象 | 鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、 電鍍(電解鎳除外)等 非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等 一般較普遍的測量物用 |
SWT-7000Ⅲ系列機(jī)型
機(jī)型 | SWT-7000Ⅲ | SWT-7100Ⅲ | SWT-7200Ⅲ | |
測量范圍 | 連接的探測頭不同測量范圍也不同。 | |||
顯示方式 | 液晶顯示LCD(數(shù)據(jù)·提示信息)、背光燈 | |||
檢量線校正 | 2點(diǎn)校正方式(零校正、標(biāo)準(zhǔn)校正) | |||
檢量線存儲 | 鐵、非鐵各1根 | 10根 | ||
測量值存儲 | — | 20,000點(diǎn) | ||
數(shù)據(jù)傳送 | — | USB | USB | |
統(tǒng)計(jì)功能 | — | — | 內(nèi)藏 | |
附加功能 | ●背光燈 ●測量模式的切換(普通/連續(xù)) ●檢量線、校正值的刪除 ●自動(dòng)關(guān)機(jī)功能(約3分以上不操作時(shí),機(jī)器會自動(dòng)關(guān)機(jī)) ●分辨率的切換 ●上下限值的設(shè)定(SWT-7200Ⅲ) | |||
電源 | 單3電池 ×2 | 單3電池 ×2 電源線 | ||
使用溫度 | 0~40C°(不結(jié)露) | |||
機(jī)體尺寸·重量 | 72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g | |||
附屬品 | 干電池、收納袋子 | 干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD) | ||
追加產(chǎn)品 | 鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe) 鐵·非鐵材用探測頭(FN-325) |
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)
型號 | Fe-2.5/2.5L | Fe-2.5LwA | Fe-0.6Pem |
測量方式 | 電磁感應(yīng)式 | ||
測量范圍 | 0~2.50mm | 0~600μm | |
表示分解率 | 1μm:0~999μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 0.01mm:1.00~2.50mm | 1μm:0~600μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm
| |
測量精度 (平滑面) | 0~100μm:±1μm 又或者時(shí)顯示值的±2%以內(nèi) 101μm~2.50mm:±2% | 0~100μm:±1μm 又或者時(shí)顯示值的±2%以內(nèi) 101μm~600μm:±2% | |
探測部 | 1點(diǎn)定壓接觸式 V形口套頭 2.5:φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm | 1點(diǎn)定壓接觸式 測量部:約20×57mm 全長:約550~ 1.550mm (伸縮式) | 1點(diǎn)定壓接觸式 Φ5.6×94mm |
選擇產(chǎn)品 | V形套頭/— (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用) | — | — |
附屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)校正片 試驗(yàn)用零校正板 (鐵用) | 標(biāo)準(zhǔn)校正片 試驗(yàn)用零校正板(鐵用) 收納袋子 | 標(biāo)準(zhǔn)校正片 試驗(yàn)用零校正板 (鐵用) |
測量對象 | 鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等 | 鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個(gè)的皮膜、襯層等等手不能進(jìn)去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。 | 鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。 |
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)
型號 | Fe-10 | Fe-20 |
測量方式 | 電磁感應(yīng)式 | |
測量范圍 | 0~10mm | 0~20mm |
表示分解率 |
1μm:0~999μm 0.01mm:1~10mm
| 1μm:0~999μm 0.01mm:1~5mm 0.1mm:5~20mm |
測量精度 (平滑面) | 0~3mm:±(5μm+顯示值的3%) 3.01mm:顯示值的±3% | |
探測部 | 1點(diǎn)定壓接觸式 V形口套頭 φ18×47mm | 1點(diǎn)定壓接觸式 V形口套頭 φ35×59mm |
選擇產(chǎn)品 | — | — |
附屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板(鐵用) | |
測量對象 | 鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用 | 鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用 |
探測頭要根據(jù)需要購買。
SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)
型號 | NFe-2.0/NFe-2.0L | NFe-06 | NFe-8 |
測量方式 | 渦電流式 | ||
測量范圍 | 0~2.00mm | 0~600μm | 0~8mm |
表示分解率 | 1μm:0~999μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 0.01mm:1.00~2.00mm | 1μm:0~600μm 切換 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm
|
1μm:0~999μm 0.01mm:1~8mm |
測量精度 (平滑表面) | 0~100μm:±1μm 又或者時(shí)顯示值的 ±2%以內(nèi) 101μm~2.00mm: ±2%以內(nèi) | 0~100μm:±1μm 又或者時(shí)顯示值的 ±2%以內(nèi) 101μm~600μm: ±2%以內(nèi) | 0~100μm:±1μm ±(±1μm+顯示值的±2%) 101μm~8mm: ±2%以內(nèi) |
探測部 | 1點(diǎn)定壓接觸式 V形口套頭 2.0:φ13×47mm 2.0L:18×23×67mm | 1點(diǎn)定壓接觸式 V形口套頭 φ11×48mm
| 1點(diǎn)定壓接觸式 V形口套頭 φ35×61mm
|
選擇產(chǎn)品 | V形套頭/- | - | - |
附屬品 | 標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板(非鐵用) | ||
測量對象 | 鋁、銅等非磁性金屬底材 上的絕緣性皮膜等一般普 通測量物用。 | 鋁、銅等非磁性金屬底 材上的絕緣性皮膜等 細(xì)小的圓棒、細(xì)管、小 物件等的高安定性用。 | 鋁、銅等非磁性金屬 底材上的絕緣性皮膜等 比較厚的測量物用。 |
探測頭要根據(jù)需要購買。
上一產(chǎn)品:schottslk12紅外線加熱板
下一產(chǎn)品:SchottSLR紅外線加熱板